Сканиращ електронен микроскоп

от Уикипедия, свободната енциклопедия
Направо към: навигация, търсене
Полени снимани с СЕМ.
СЕМ с отворена вакумна камера

Сканиращият електронен микроскоп (СЕМ) е вид електронен микроскоп ,който се използва за изучаване на повърхности: Обектът се сканира (обхожда се точка по точка) от електронен сноп. Отразените или избитите електрони се улавят от детектор и след обработка на сигнала,се получава образ върху монитора. За да се получат качествени образи при наблюдение, е необходимо да се отразяват или избиват максимално количество електрони т.е обектът да е "непрозрачен за тях". Това налага покриването на непроводящи обекти с тънък слой въглерод (под формата на графит) или благороден метал (злато,злато-паладий,платина). Работи се с по-ниско напрeжение от трансмисионния електронен микроскоп(30-40 kV).Сканирането на обекта става с помощта на така наречените дефлектори - електромагнитни пластинки, които отклоняват елктронния лъч във взаимно перпендикулярни посоки. За да има максимална ефективност,всички електромагнитни лещи, които регулират елeктронния лъч се намират преди обекта за наблюдение ,който е поставен в най-долната част на вакуумната колона.Образът ,който се получава е обемен,тъй като детекторът за избитите или отразени електрони е поставен в единия край на тръбата и ако електроните се отклонят в друга посока,съответната точка се отчита като "тъмна",а ако отклонението е в посока на детектора - като "светла". [1]


История[редактиране | edit source]

СЕМ е първоначално разработен от Манфред фон Арден в Германия.

Източници[редактиране | edit source]

  1. Из "КЛЕТЪЧНА БИОЛОГИЯ" Ръководство за упражнения Автори:Таня Топузова-Христова Веселина Москова Ралица Вълчева-Саркър