Атомно-силов микроскоп: Разлика между версии

от Уикипедия, свободната енциклопедия
Изтрито е съдържание Добавено е съдържание
превод от руски
 
м r2.7.1) (Робот Промяна: ar:مجهر القوة الذرية
Ред 14: Ред 14:
[[Категория:Микроскопи]]
[[Категория:Микроскопи]]


[[ar:مجهر الطاقة الذرية]]
[[ar:مجهر القوة الذرية]]
[[ca:Microscopi de forces atòmiques]]
[[ca:Microscopi de forces atòmiques]]
[[cs:Mikroskopie atomárních sil]]
[[cs:Mikroskopie atomárních sil]]

Версия от 17:12, 27 март 2011

Схема на атомно-силов микроскоп

Атомно-силов микроскоп (АСМ, Шаблон:Lang-en) е микроскоп с висока разделителна способност, основан на взаимодействието на сонда (тънко острие) с повърхността на изследвания образец. Това взаимодействие се изразява в привличане или отблъскване на сондата от повърхността, дължащо се на силите на Ван дер Ваалс. Чрез използването на специални остриета могат да бъдат изучавани електрическите и магнитните свойства на повърхностите. За разлика от сканиращия тунелен микроскоп с помощта на АСМ могат да се изследват както проводящи, така и непроводящи повърхности. Освен това с АСМ може да се измерва и релефа на образец, потопен в течност, което позволява да се работи с органични молекули, включително ДНК. Пространствената разделителна способност на атомно-силовия микроскоп зависи от радиуса на кривината на острието и по вертикала достига атомарни размери, а по хоризонтала е значително по-голямо.

Принцип на действие

Острието, разглеждано в сканиращ електронен микроскоп при увеличение 1000×

Атомно-силовият микроскоп представлява система образец + острие, закрепено в единия край (кантилевър) [1]. На малки разстояния между двойката атоми — един на образеца, другият на острието, при разстояние от около един ангстрьом действуват сили на отблъскване, а на по-големи разстояния — сили на привличане. Големината на силите зависи експоненциално от разстоянието между образеца и иглата. Отклоненията на острието се регистрират с помощта на чувствителни сензори — оптични, капацитивни или тунелни. Ако към системата се добави устройство за разгъвка по осите X и Y се получава сканиращ АСМ.

Източници

  Тази страница частично или изцяло представлява превод на страницата „Сканирующий атомно-силовой микроскоп“ в Уикипедия на руски. Оригиналният текст, както и този превод, са защитени от Лиценза „Криейтив Комънс – Признание – Споделяне на споделеното“, а за съдържание, създадено преди юни 2009 година – от Лиценза за свободна документация на ГНУ. Прегледайте историята на редакциите на оригиналната страница, както и на преводната страница, за да видите списъка на съавторите. ​

ВАЖНО: Този шаблон се отнася единствено до авторските права върху съдържанието на статията. Добавянето му не отменя изискването да се посочват конкретни източници на твърденията, които да бъдат благонадеждни.​