Файл:AFMsetup.jpg

Съдържанието на страницата не се поддържа на други езици.
от Уикипедия, свободната енциклопедия

AFMsetup.jpg ‎(721 × 569 пиксела, големина на файла: 86 КБ, MIME-тип: image/jpeg)

Емблемата на Общомедия Този файл е от Общомедия и може да се използва от други проекти.

Следва информация за файла, достъпна през оригиналната му описателна страница.

Резюме

Описание
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Дата 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Източник

http://kristian.molhave.dk

Автор yashvant
Права
(Повторно използване на файла)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg е векторна версия на този файл. Тя следва да бъде използвана на мястото на това растерно изображения, в случай, че не е ниш.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
За повече информация, вижте Help:SVG.
На други езици
Alemannisch ∙ Bahasa Indonesia ∙ Bahasa Melayu ∙ British English ∙ català ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ eesti ∙ English ∙ español ∙ Esperanto ∙ euskara ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ hrvatski ∙ Ido ∙ italiano ∙ lietuvių ∙ magyar ∙ Nederlands ∙ norsk bokmål ∙ norsk nynorsk ∙ occitan ∙ Plattdüütsch ∙ polski ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ Scots ∙ sicilianu ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ suomi ∙ svenska ∙ Tiếng Việt ∙ Türkçe ∙ vèneto ∙ Ελληνικά ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ македонски ∙ нохчийн ∙ русский ∙ српски / srpski ∙ татарча/tatarça ∙ українська ∙ ქართული ∙ հայերեն ∙ বাংলা ∙ தமிழ் ∙ മലയാളം ∙ ไทย ∙ 한국어 ∙ 日本語 ∙ 简体中文 ∙ 繁體中文 ∙ עברית ∙ العربية ∙ فارسی ∙ +/−
Ново SVG изображение

Лицензиране

w:bg:Криейтив Комънс
признание на авторството
Този файл се разпространява под генеричния лиценз Криейтив Комънс Признание 2.5.
Можете свободно:
  • да споделяте – да копирате, разпространявате и излъчвате произведението
  • да ремиксирате – да адаптирате произведението
Съгласно следните условия:
  • признание на авторството – Трябва да посочите авторството, да добавите връзка към лиценза и да посочите дали са правени промени. Можете да направите това по всякакъв разумен начин, но не и по начин, оставящ впечатлението, че същият/същите подкрепят вас или използването по някакъв начин на творбата от вас.

Описания

Add a one-line explanation of what this file represents

Items portrayed in this file

изобразен обект

copyright status английски

copyrighted английски

MIME type английски

image/jpeg

checksum английски

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

метод на определяне: SHA-1

data size английски

88 071 Байт

височина

569 пиксел

ширина

721 пиксел

История на файла

Избирането на дата/час ще покаже как е изглеждал файлът към онзи момент.

Дата/ЧасМиникартинкаРазмерПотребителКоментар
текуща14:10, 21 ноември 2006Миникартинка на версията към 14:10, 21 ноември 2006721 × 569 (86 КБ)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

Следната страница използва следния файл:

Глобално използване на файл

Този файл се използва от следните други уикита:

Преглед на глобалната употреба на файла.

Взето от „https://bg.wikipedia.org/wiki/Файл:AFMsetup.jpg“.